อัตสึกิ ซิตี้, คานากาว่า, ญี่ปุ่น–(บิสิเนส ไวร์)–27 ก.ย.2548 – อันริตสึ คอร์ปอเรชั่น (TOKYO:6754) แถลงว่า ด้วยความครอบคลุมที่เพิ่มมากขึ้นของเครือข่าย IP และการส่งผ่านทางใยแก้ว/ดิจิตอลนั้น เทคโนโลยี EoS สำหรับการส่งอีเทอร์เน็ต (Ethernet) ที่อิงระบบ LAN ผ่านทาง SONET/SDH ที่อิงกับระบบ WAN จึงเป็นที่ชื่นชอบอย่างกว้างขวางในฐานะหนึ่งในเทคโนโลยีเครือข่ายยุคหน้าที่สำคัญที่สุด เพื่อที่จะตอบสนองความต้องการที่เป็นผลมาจากเทคโนโลยีรุ่นใหม่นี้ อันริตสึจึงได้เพิ่มทางเลือกด้าน VCAT และ LCAS บนหน่วยเทคโนโลยี MP1590B EoS ของทางบริษัท
ในตลาดเครื่องรับส่งคลื่นขนาด 10 Gbit/s นั้น คาดว่าผลิตภัณฑ์ XFP modules จะก้าวขึ้นมาเป็นส่วนสำคัญนับตั้งแต่นี้ไป เนื่องจากผลิตภัณฑ์ดังกล่าวมีขนาดเล็กกว่าและใช้พลังงานต่ำ อันริตสึได้พัฒนาผลิตภัณฑ์ 10G Electrical Differential Interface Units ชิ้นแรกในการทำให้การวัดความผิดพลาดด้านเวลาของข้อมูลดิจิตอล (jitter) ของโมดูล XFP ได้อย่างถูกต้อง ซึ่งแต่เดิมนั้นไม่สามารถที่จะใช้วิธีการวัดผลแบบดั้งเดิมได้
รายละเอียดผลิตภัณฑ์
เทคโนโลยีการวัดผล EoS
ผลิตภัณฑ์ EoS รุ่นใหม่นี้สามารถใช้ได้กับ GFP, LEX, LAPS (X.86), PPP และวิธี encapsulation แบบอื่น ๆ กรอบข้อมูล EoS ในรายละเอียดสามารถตรวจสอบได้แบบเรียล-ไทม์ ซึ่งใช้อุปกรณ์เรียล-ไทม์ รวมทั้งกรอบอีเทอร์เน็ตและกรอบการเก็บข้อมูล GFP และหน้าที่ในการถอดรหัส การพัฒนาอ็อปชั่นด้าน VCAT และ LCAS ซึ่งสอดคล้องกับมาตรฐาน ITU-T นั้น ได้ทำให้มีความเป็นไปได้ในการวัดผลวงจรการส่งผ่าน EoS ที่หลากหลายในวงกว้าง ท้ายที่สุด ก็ได้มีการพัฒนาอ็อปชั่นด้าน VCDD ซึ่งจะทำให้สามารถประเมินศักยภาพของอุปกรณ์เพื่อที่จะรองรับความผันแปรเกี่ยวกับความล่าช้าที่แตกต่างกันที่สามารถเกิดขึ้นได้อย่างเต็มรูปแบบ ดังนั้น อุปกรณ์ทดสอบประสิทธิภาพเครือข่าย MP1590B Network Performance Tester เพียงหนึ่งเดียวนี้ จะสามารถประมินความมีประสิทธิภาพของเครือข่ายที่ใช้งาน EoS, อุปกรณ์การส่งผ่าน และผลิตภัณฑ์ที่อิงกับมาตรฐาน ITU-T
การวัดผล jitter ในโมดูล XFP ซึ่งใช้การเชื่อมต่อที่แตกต่างทางไฟฟ้า
โมดูล XFP มีการเชื่อมต่อใยแก้วในส่วนของวงจรการส่งผ่าน และการเชื่อมต่อที่แตกต่างทางไฟฟ้าที่เรียกว่า XFI ในส่วนของอุปกรณ์ โดยต้องมีการใช้การเชื่อมต่อทั้งสองส่วนเมื่อมีการประเมินคุณสมบัติของผลิตภัณฑ์ดังกล่าว อย่างไรก็ตาม เนื่องจากจนถึงปัจจุบันนี้ก็ยังไม่มีเครื่องมือการวัดผลที่เหมาะสมกับโมดูล XFP ดังนั้น จึงเป็นไปไม่ได้ที่จะมีการวัดผลอย่างถูกต้องเกี่ยวกับ jitter ที่จะลดประสิทธิภาพของวงจร เนื่องจากเสียงที่ก่อกำเนิดอยู่ภายในโมดูล XFP หรือภาวะที่เชื่อมต่อกันอย่างไม่เหมาะสมกับเครื่องมือนั้นได้มีอิทธิพลต่อการวัดผลดังกล่าว
การใช้ผลิตภัณฑ์ Electrical Differential Interface Unit ที่ได้รับการพัฒนาขึ้นใหม่นี้ จะทำให้เป็นไปได้ในการที่จะดำเนินการวัดผล jitter พื้นฐานทั้งหมด (แรงต้านของ jitter, การส่งผ่าน jitter และการเกิด jitter) ได้อย่างเป็นอิสระสำหรับการส่งผ่านและการรับ ดังนั้น ในขณะนี้ จึงนับว่าได้ประสบความสำเร็จในการวัด jitter ได้อย่างถูกต้องของโมดูล XFP แล้ว
สำหรับการตรวจสอบความถูกต้องเพิ่มเติมนั้น การเชื่อมต่อใยแก้ว MP1590B สามารถติดตั้งได้พร้อมกัน, สัญญาณใยแก้วและดิจิตอลก็สามารถจะให้ผลออกมาพร้อมกัน และคุณสมบัติหลักในการวัดผลทั้งระดับการส่งข้อมูลทางไฟฟ้าและระดับการรับข้อมูลทางไฟฟ้าก็จะสามารถเปลี่ยนแปลงได้
เกี่ยวกับอันริตสึ
อันริตสึ คอร์ปอเรชัน (www.anritsu.com) เป็นผู้ให้บริการระดับโลกในด้านโซลูชันการสื่อสารที่ก้าวล้ำมาเป็นเวลามากกว่า 110 ปี ด้วยสำนักงานหลายแห่งทั่วโลก อันริตสึ โดยการควบรวมกิจการของ NetTest (www.nettest.com) นั้น ได้ให้บริการโซลูชันสำหรับกลุ่มผู้ประกอบการและระบบสื่อสารไร้สายทั้งที่มีอยู่ในปัจจุบันและยุคหน้า โซลูชันการวัดผลรวมถึงเครื่องมือไร้สาย, ออพติคอล, ไมโครเวฟ/อาร์เอฟและเครื่องมือดิจิตอลซึ่งสามารถใช้ในระหว่างการวิจัยและพัฒนา, การผลิต, การติดตั้งและการซ่อมบำรุง อันริตสึยังให้บริการด้านส่วนประกอบไมโครเวฟ/อาร์เอฟที่มีความแม่นยำ, อุปกรณ์ออพติคอลและอุปกรณ์ความเร็วสูงสำหรับการออกแบบผลิตภัณฑ์และระบบการสื่อสาร อันริตสึมีการจำหน่ายผลิตภัณฑ์รวมในกว่า 90 ประเทศทั่วโลกและมีพนักงานราว 4,000 คน
ติดต่อ: อันริตสึ คอร์ปอเรชั่น
คาซูฮิโกะ อิชิเบะ, 046/296-6626
Ishibe.Kazuhiko@ee.anritsu.co.jp
